DAVID
LELONG

Expert des Méthodologies des processus de Mesure et d'Essais / STELLANTIS

Access to the mygi Application

Conferences

Handheld scanners: what are the metrological challenges?

Monday 30 March 2026 de 11:30 à 12:00 - 30m

Zone de pitch métrologie/photonique

Table ronde

Michael CANDELA

Responsable du Centre MECA3D

INSA LYON/INSAVALOR

DAVID LELONG

Expert des Méthodologies des processus de Mesure et d'Essais

STELLANTIS

Olivier Longuemare

Sales Director – France / Benelux / Maghreb

FARO-CREAFORM (Ametek SAS)

Stéphane ROUSSEL

Ingénieur

CETIM

Jerome LOPEZ

Director

CFM - COLLEGE FRANCAIS DE METROLOGIE

More speakers

Clément PILI

Etudiant / UNIVERSITÉ SAVOIE MONT BLANC

Jim RHONE

CPO / INTERSTELLAR LAB

Loic PLANQUE

Responsable Commercial Cyber-sécurité / BUREAU VERITAS

Bonjour et enchanté ! Je suis responsable commercial au sein de BV Cybersecurity, heureux d'être présent sur le salon GI. Nous aidons les acteurs de toutes industries autour de leurs projets de: -Conformité (Machine, CRA, NIS2, IEC62443, ISO27K...) -Contrôle des risques IT/OT au niveau sites, systèmes et produits, -Résilience des équipes opérationnelles et de direction. Au plaisir de vous retrouver à Villepinte. Loïc

Thibaut Wilhelm

CEO / OSS VENTURES